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- 美國 OHAUS 精密電子分析天平
- EXP 精密電子分析天平
- 精密電子分析天平EXP324/AD
EXP 精密電子分析天平
精密電子分析天平EXP324/AD
高階款，0~320g，四位數，內校天平- 特點
- 大容量精密稱重： 秤重範圍與精度達 0~320g / 0.1mg，在大負載下提供卓越的準確度。
- 自動防風門： 搭載 AD (Auto-Door) 自動防風門，減少手部接觸，提升作業效率並確保環境穩定。
- 智慧介面： 配備可分離式高彩度 VGA 觸控螢幕，優化視角並避免操作震動。
- 感應操作： 內建可定義功能的紅外線感應器，支援非接觸式自動開門、扣重或歸零。
- 高效輸入： QWERTY 觸控按鍵功能，使樣品資訊與資料輸入如同手機般流暢容易。
- 數據合規： 具備四級用戶管理權限與不可編輯的系統日誌 (Audit Trail)，確保資料不可竄改。
- 自動校正： 搭載 AutoCal™ 內砝碼全自動校正系統，隨環境溫差自動校準以確保精準。
- 產業應用： 具備領先的數據安全規範與高效性能，非常適用於藥廠等高標準領域。
介紹
- OHAUS EXP324/AD 為 Explorer Plus 系列中結合高負載能力與自動防風門的旗艦分析天平。
- 具備 320g 的大秤量範圍與 0.1mg 的極高精度，讓使用者在處理較重容器或大體積樣品時，仍能維持極致準確。
- 其內建的自動化感應與完整審計追蹤功能，專為藥廠研發與精密工業等對效率、數據合規性有極高要求的環境量身打造。
