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- 美國 OHAUS 精密電子分析天平
- EXP 精密電子分析天平
- 半微量精密電子分析天平EXP225/AD
EXP 精密電子分析天平
半微量精密電子分析天平EXP225/AD
高階款，0~220g，五位數，內校天平- 特點
- 半微量級精度： 秤重範圍與精度達 0~220g / 0.01mg，提供微量樣品稱取的極致準確度。
- 內建靜電消除技術： 標配內建離子產生器，可快速中和樣品與容器表面的靜電，解決微量藥粉跳動或數值飄移問題，確保讀數穩定。
- 自動防風門： 搭載 AD (Auto-Door) 自動防風門，極大化減少手部操作產生的氣流與震動，提升作業效率。
- 智慧統計與百分比稱量： 內建統計功能可自動計算平均值與標準差；百分比稱量則方便進行微量配方的精密比例調配。
- 智慧介面： 配備可分離式高彩度 VGA 觸控螢幕，優化視角並避免操作震動影響精密的稱重結果。
- 感應操作： 內建可定義功能的紅外線感應器，支援非接觸式自動開門、扣重或歸零。
- 高效輸入： QWERTY 觸控按鍵功能，使樣品資訊與資料輸入如同手機般流暢容易。
- 數據合規： 具備四級用戶管理權限與不可編輯的系統日誌 (Audit Trail)，確保資料不可竄改。
- 自動校正： 搭載 AutoCal™ 內砝碼全自動校正系統，隨環境溫差自動校準以確保精準。
- 產業應用： 具備頂級防靜電能力與數據保護規範，非常適用於藥廠等高標準領域。
介紹
- OHAUS EXP225/AD 為 Explorer Plus 系列中的半微量等級旗艦天平，專為需要極致精確度的微量分析設計。
- 其精度高達 0.01mg，並標配自動防風門與內建離子產生器，能徹底排除靜電對微量樣品的干擾。
- 結合嚴謹的權限控管與審計追蹤系統，本機型不僅提供最穩定的稱取環境，更完全符合藥廠 API 分析及研發實驗室對於數據完整性與高精密度的嚴苛要求。